用于光学镜片检查的luphosan轮廓仪

LUPHOScan HD测量平台是一种基于多波长干涉测量的干涉扫描测量系统 (MWLI®) 技术。

它是专为超精确，旋转对称表面的非接触式三维形状测量，如非球面，球面，平面，和自由曲面光学透镜。

该仪器的主要功能包括高速测量，测量特殊表面的高度灵活性 (例如g.,拐点或扁平尖端的轮廓)，以及测量最大直径最大为420毫米的物体的能力。

创新的测量技术LUPHOScan HD测量平台开创了光学表面高精度计量的新领域。新一代测量系统可测量高达90 ° 的物体角度，绝对测量精度优于 ± 50 nm (3 σ)。测量结果具有极高的重复性和低噪声。

全新LUPHOScan HD是具有极高精度要求的应用的理想选择，是生产过程控制的基础。它可以测量具有极高斜率的表面，具有不同间距方向的表面以及诸如智能手机镜片模具之类的极小表面。

用LUPHOSwap扩展测量光学元件的形状误差

LUPHOScan 260 HD和LUPHOScan 420 HD测量平台可以利用LUPHOSwap扩展来连续测量镜头两个表面的所有特征。特殊的测量概念允许来自两个表面的测量结果的相关性。此概念使LUPHOSwap能够在测量形状误差的同时确定两个表面的精确厚度，楔角，偏心误差和旋转定位。

• 深入分析任何旋转对称曲面: 非球面、球面、平面和自由曲面。

• 高精度: 能够测量坡度高达90 ° 的物体，使其非常适合测量大型，陡峭，极小的非球面透镜 (例如智能手机透镜模具)。

• 材料多功能性: 可以测量任何材料，包括透明、镜面、不透明、抛光和研磨表面。

• 大的球面偏差: 能够测量圆盘或鸥翼表面，以及拐点的轮廓。

• 测量结果的高重复性: 确定功率和PV参数的最佳稳定性。

• 低系统噪声: 坚固耐用，不受环境变化的影响。

• 高速测量: 能够测量直径达420毫米。

百纳光学目前拥有luphosan 420HD

百纳光学目前拥有luphosan 420HD，可以精确检查光学元件的各种参数。这对于检查光学圆顶的整体表面形状特别有利，显著优于标准Zygo干涉仪。